JIS C7410-1981 有可靠性保证的模拟半导体集成电路通则
作者:标准资料网 时间:2024-04-19 21:06:00 浏览:8906
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【英文标准名称】:Generalrulesforreliabilityassuredanaloguesemiconductorintegratedcircuits
【原文标准名称】:有可靠性保证的模拟半导体集成电路通则
【标准号】:JISC7410-1981
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Electronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;可靠度;集成电路;电子设备及元件;线性集成电路;模拟电路;质量控制
【英文主题词】:semiconductordevicesreliability;qualitycontrol;
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:13P;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:有可靠性保证的模拟半导体集成电路通则
【标准号】:JISC7410-1981
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Electronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;可靠度;集成电路;电子设备及元件;线性集成电路;模拟电路;质量控制
【英文主题词】:semiconductordevicesreliability;qualitycontrol;
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:13P;A4
【正文语种】:日语
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